Patrik Laiho : Conductive atomic force microscopy studies...

Item image
Item image
1 / 2
HyväVillähde Finlandia Kirja

Osta heti

Sulkeutuu: 119pv 23h

12,00 €

Kuvaus

TEKIJÄ: Laiho, Patrik
TEOKSEN NIMI: Conductive atomic force microscopy studies and computational modelling of single-walled carbon nanotube thin films (signeerattu, tekijän omiste)

Sidostyyppi: Sidottu (kovakantinen)
Teoksen kuntoluokitus: K3+ (hyvä +)
Kustantaja: Aalto yliopisto
Painovuosi: 2012
Painos: 1
Kieli: englanti, suomi
Teoksen mitat: korkeus: 295 mm, leveys: 215 mm, paksuus: 12 mm, paino: 524 g

Muuta: hieman nuhruisuutta kansissa

TOIMITUSKULU: Toimituskululuokan C mukaan (ks. luokkakohtaiset hinnat sopimusehdoista). Toimitamme niin monta tuotetta kuin haluat toimituskululuokan D hinnalla. Ulkomaille tilatessasi kysy erikseen postikulu.

Tutustu myös verkkokauppaamme www.finlandiakirja.fi, missä on saatavilla koko valikoimamme nopealla toimituksella. Toimitustapoina Posti, DSV ja Matkahuolto. Myös kotiinkuljetukset. Voit tilata suoraan verkko- ja korttimaksulla, laskulla, mobiilimaksulla, erämaksulla tai PayPalilla. We ship all over the world!

Me myös ostamme kirjoja koko Suomesta kotoa noudettuna.

Katso myyjän muut saman tuoteryhmän kohteet

Myyjä

F
Yritys Finlandia Kirja

Toimitus ja maksu

Toimitustapa:
Toimitus —
Maksuehdot:Maksutapa: tilisiirto. Tuotekohtainen toimituskululuokka ilmoitetaan tuotetiedoissa (ks. tarkat toimituskulut sopimusehdoista). Seuraavaan aamuun klo 6 mennessä tilatut tuotteet maksetaan samalla koontilaskulla yksillä toimituskuluilla.
Toimitusehdot:

Lisätiedot

Sijainti:15540 VILLÄHDE
Kunto:Hyvä
Osasto:Tekniikka
Lisätty:03.10.2026 klo 07.14
Sulkeutuu:31.01.2027 klo 06.14
Kohdenumero:653622746

Myyjän muut tuotteet

Näytä kaikki
Mainos

Tutustu myös näihin